范继来 —— 颗粒测试技术的发明家

范继来，1981年3月出生，高级工程师，丹东市振兴区人大代表，中国颗粒学会青年理事，2018年获得“中国青年颗粒学奖”，2019年获得“辽宁青年科技奖”。曾获得，工信部国家强基项目“高精度智能激光粒度仪”获得中国非金属矿工业协会科技进步一等奖、丹东市科技进步一等奖、获辽宁省科技进步二等奖、辽宁省首届专利奖三等奖。参与国家标准GB-T19077-2016《粒度分布激光衍射法》制定，现任丹东百特仪器有限公司研发总监兼研发中心主任。2002年7月，范继来加入丹东百特仪器有限公司，开始走上了颗粒测试技术创新的道路。

在近二十年的科研生涯中主要负责激光粒度仪、图像粒度仪等仪器的基础研究与开发工作，进行了多项光学设计、反演算法设计、系统设计、市场应用研究等工作。期间共获得了29项专利技术（其中10项发明专利）、十项软件著作权和几十项颗粒测试与验证的专有技术。

1. 发明了激光粒度测试双镜头光学系统

2008年，范继来提出了双镜头光路系统的设想，并进行了镜头、光源、接收器等一系列的设计，实现了用单光束同时产生和接收前向和后向散射光的效果，主持研制了世界首台双镜头激光粒度仪Bettersize2000。使国产激光粒度仪在量程、准确性、重复性和分辨力等主要技术指标达到进口同类产品水平，开启了百特向激光粒度测试技术与仪器进军的先河。

2. 发明了双镜头斜入射技术和“激光散射+显微图像”二合一粒度粒形分析技术

为了进一步挖掘双镜头技术的潜力，范继来还对双镜头光路中的镜头进行了改进，研制成功了斜入射双镜头光学系统，进一步扩大了散射光的探测角度，拓展了测试下限，提高了各个粒径区段的测量精度。同时，范继来在“斜入射双镜头”技术基础上，进一步提出了“激光散射+显微图像”二合一粒度粒形测试系统的创意。以此技术为核心的Bettersize3000Plus激光粒度粒形分析系统，量程达到0.01-3500μm，准确性、重复性和分辨力等指标均达到甚至超过进口仪器水平。该仪器自2016年问世以来，不仅得到国内制药、电池材料、火炸药、军工产品等领域用户的青睐，还批量出口到德国、美国、俄罗斯、韩国等二十多个国家和地区。

3. 发明了正反傅里叶结合的激光粒度仪

国内外激光粒度仪所采用的光学系统各不相同，但刨根问底，不是正傅里叶系统，就是反傅里叶系统，两者各有优缺点。范继来将这两种光学系统的优点结合起来，前向散射光采用反傅里叶光路产生和接收，后向散射光采用正傅里叶光路产生和接收，从而解决了反傅里叶光学系统无法接收后向散射信号的难题。正、反傅里叶光学系统融为一体，相得益彰，使“中国激光粒度测试技术达到了世界先进水平”（中国颗粒学会鉴定结论）。

4. 发明了激光散射与消光法测量颗粒折射率技术

范继来将Mie散射定律和Beer定律相结合起来，通过优化筛选，找到了准确测量颗粒折射率的方法，解决了粉体材料折射率测量的世界难题。此项技术在军工、制药、电池材料等领域广泛应用，提高了激光粒度仪的粒度测试准确性和分辨力。

5. 研制成功了高精度反演算法

反演计算是激光粒度测试技术中的一个重要方面。一般的反演算法保证准确性和重复性，就要牺牲一些分辨力；保证准确性和分辨力，就要牺牲一些重复性。要使这几项指标同时达到高水平难上加难。范继来研制的高精度反演算法实现了准确性、重复性和分辨力三者相结合，无论对单峰、双峰、多峰、窄分布、宽分布的样品，都能得到准确、稳定的结果。与国外同类产品相比，具有明显的优势。

6. 使动态图形粒度粒形分析技术实用化

范继来主持研制的百特动态图像粒度粒形分析系统中，研发成功了快速数字图像处理算法，实现了以往图像处理速度跟不上拍摄速度的问题，实现了“即拍图像即出结果”，使动态图像粒度粒形分析系统这项技术不如实用化，并且既能分析粒度，又能分析粒形，为研磨材料、研究领域等同时关注粒度和粒形的用户提供了一种全新的分析手段。

近20年来，范继来始终从事粒度测试技术研究和应用研究工作。他通过刻苦学习，努力实践取得了许多开创性技术成果，为中国颗粒分析技术和仪器的技术性能从“下里巴人”提升到“阳春白雪”做出了贡献，为粉体产业的提质增效和节能减排做出了贡献。范继来政治立场坚定，爱党爱国爱岗敬业，立志向颗粒测试技术高峰攀登，为实现中华民族伟大复兴的中国梦做出更大的贡献。