从测试含有纳米颗粒的碳化硅样品看Bettersize2600的优良性能

要准确测试含有微米和纳米这种“跨界”样品的粒度分布，是一件困难的事：一是需要有一台既能测微米、又能侧纳米的粒度仪，这一点就不容易满足；二是要对样品进行充分分散，包括选择合适的介质、合适的分散剂和适当的外力分散方法；三是要对测试结果进行合理性验证，这一点及其重要。最近，百特实验室用Bettersize2600激光粒度仪测了一个碳化硅样品，粒度分布图如下：

开始，我们对这个结果产生了疑惑：以往的碳化硅样品的粒度分布图形不都是很漂亮的吗？为什么这个碳化硅会是这样的峰形呢？前面的峰到底有没有呢？测的数据对吗？准吗？带着这些疑惑，我们对这个碳化硅样品进行处理，通过配置一定浓度的悬浮液（图2），静置24小时后（图3），来看到底有没有纳米颗粒。

我们发现，静置24小时后的悬浮液有明显的分层现象，但上清液呈乳白透明状，说明上清液中还有小颗粒。我们通过Stokes沉降定律计算，这些乳白透明状的颗粒最大直径不大于1μm。我们取上清液，用Bettersize2600激光粒度仪进行粒度分布测试，结果是D10=41nm，D50=72nm，D90=371nm，Dmax=900nm。说明这个碳化硅样品是纳米和微米颗粒的混合物。初步判断图1的结果是正确的。

为了更进一步考察，我们对这个碳化硅样品用场发射扫描电镜进行拍照，看看是否存在纳米颗粒。从不同倍数的电镜照片看，最大颗粒有10μm左右，100纳米及以下的颗粒（红圈内）也确确实实存在的，而且含量非常多。证明Bettersize2600激光粒度仪的测试结果（图1）是正确的。

从这个样品的测试和验证过程证明，Bettersize2600激光粒度仪能准确测量纳米和微米混合样品的粒度分布。从Bettersize2600激光粒度仪的设计来看也具备这个能力，因为它采用了正反傅里叶结合光路，能准确探测前向、侧向和后向散射光，实现了全角度测量，从而保证了细颗粒端的测量精度。